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應(yīng)用案例
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2025/12/5 17:20:53
果果儀器5000N超高溫拉伸臺(tái)適配國(guó)儀量子掃描電鏡5000X測(cè)試分享SEM原位拉伸臺(tái)作為掃描電鏡（SEM）功能附件（無需改造鏡體），兼容EBSD模式，可選配溫控模塊（如1200℃超高溫模塊），實(shí)現(xiàn)材料微結(jié)構(gòu)演化與原位力學(xué)響應(yīng)的同步研究。測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)品主要技術(shù)規(guī)格：拉力：量程：5000N；精度：0.1%F.S.位移距離：10mm拉伸速度：0.03~2mm/min力學(xué)模式：拉伸、壓縮、剪切、彎曲冷熱方式：電阻發(fā)熱溫控范圍：RT~1200℃溫度穩(wěn)定性：±0.1℃控溫速率：最大升溫速
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2025/11/21 17:20:18
01技術(shù)定義TSDC（Thermally Stimulated Depolarization Currents）熱激勵(lì)去極化電流測(cè)試系統(tǒng)，是一種用于研究電介質(zhì)材料在熱刺激下極化態(tài)變化的高精度測(cè)試設(shè)備。其基本原理基于材料在受熱過程中建立或解除極化態(tài)時(shí)產(chǎn)生的短路電流（即去極化電流），通過記錄電流隨溫度的變化關(guān)系，繪制出TSDC譜圖，從而揭示材料的微觀電學(xué)特性。02使用設(shè)備極化設(shè)備：果果儀器探針熱臺(tái)（EH200-Mini）溫控范圍：RT~200℃升溫速率：0.1~50℃/min溫度穩(wěn)定性：&plusm
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2025/11/14 16:27:56
根據(jù)客戶需求，果果儀器為中國(guó)科學(xué)化學(xué)研究所定制了半導(dǎo)體冷熱臺(tái)。該產(chǎn)品采用帕爾貼冷熱技術(shù)（TEC），實(shí)現(xiàn)-30℃~120℃溫度范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制。冷熱臺(tái)預(yù)留氣氛接口，并在反應(yīng)腔內(nèi)配置濕度傳感器，提供了相對(duì)濕度和溫度可控的環(huán)境室，適配拉曼光譜儀（Horiba LabRam Odyssey），研究水性微滴中PA的化學(xué)反應(yīng)。設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)品主要技術(shù)參數(shù)：溫度范圍：﹣30℃~120℃冷熱方式：TEC溫度穩(wěn)定性：±0.1℃升降溫速率：0.1~20℃/min溫控方式：PID溫度傳感器:PT100
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2025/11/7 15:59:56
近日，果果儀器為中國(guó)科學(xué)院金屬研究所交付紅外聚焦超高溫加熱系統(tǒng)，在上海同步輻射光源現(xiàn)場(chǎng)安裝測(cè)試。上海光源科學(xué)中心大廳該產(chǎn)品采用紅外聚焦加熱的方式，提供RT~1600℃溫度范圍內(nèi)的精準(zhǔn)控制，適配塊狀/片狀/管狀等多種樣品變溫觀察及測(cè)試。測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)品主要技術(shù)規(guī)格：加熱方式：紅外加熱溫控范圍：RT~1600℃溫度穩(wěn)定性：±0.1℃最大升溫速率：30℃/s光路：透射X射線透射膜：Kapton膜入射視窗尺寸：Φ10mm出射視窗尺寸：Φ80mm樣品臺(tái)放樣結(jié)構(gòu)：定制支架（
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2025/10/24 13:35:55
果果儀器XRD冷熱臺(tái)是專為X射線衍射分析儀設(shè)計(jì)的原位裝置，精準(zhǔn)掌控材料在變溫條件下的實(shí)時(shí)響應(yīng)，可精準(zhǔn)適配布魯克、賽默飛、理學(xué)、島津等主流XRD設(shè)備。近日，果果儀器為上海高等研究院交付XRD超高溫?zé)崤_(tái)（適配布魯克D8系列），并在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試商業(yè)化68%Pt/C材料，成功測(cè)試材料在全溫域下的動(dòng)態(tài)相變過程！產(chǎn)品主要技術(shù)規(guī)格：產(chǎn)品型號(hào)：XH1200S冷熱方式：電阻加熱溫度范圍：RT~1200℃溫度穩(wěn)定性：±0.1最大升溫速率：100℃/min載樣臺(tái)：高溫陶瓷；20mm*20mm衍射角2θ：∠0
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2025/10/17 15:12:10
按照客戶需求，果果儀器為香港科技大學(xué)定制了16探針冷熱臺(tái)。探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)研究樣品變溫電學(xué)性能測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。該產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190℃~600℃（真空下-190℃~400℃）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，可與電學(xué)儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測(cè)試。該設(shè)備用于測(cè)試低分壓氣體下傳感器隨著高低溫環(huán)境變化的電學(xué)性能。探針冷熱臺(tái)需要與溫度控制器、致冷控制器配套使用，配套的上位機(jī)溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis
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